采用 多光束光学传感器系统(MOS)原位实时测量分析，可研究 锂离子电池 反应动力学过程中或 在正常使用过程中内部会产生应力， 对其电化学性能的影响；即就是在充放电过程中锂离子…

经济型 原子力显微镜用于高分辨率三维形貌成像分析和测量，设备整合了低噪音开环扫描器，快速扫描范围可达 15 m 15m ， Z 方向扫描分辨率高达亚纳米级。 配合高视觉感的 PSX 控制软…

Raman Microscope 整合了 Raman Analyzer EnSpectr R532 和奥林巴斯 CX-41 显微镜，可同时实现透射和反射测量；并且在一个系统可同时进行多个测试，通过区分粒子的物理和化学特性来识别2-3 m 的粒…

EnS 532 拉曼分析仪是一款独一无二的设备，整合了便携式探针拉曼系统技术优势，为实验室提供了高性能、高标准的实验仪器，满足客户高水平数据分析的需要。 通过参考光谱数据库，…

根据客户广泛的测试需求，EnS研发了光纤发光分析仪，可实现非侵入、实时光谱分析。采用光纤使得对难以测量的样品分析成为可能（例如粉末样品，难以触及的样品或区域、侵入样品…

便携式发光光谱仪设定在蓝紫波长波段，独特的设计，是目前世界上独一无二的发光分析仪，结构紧凑，并将最高分辨率和优越的灵敏度紧密结合。根据科学研究和工业应用的需求 该发…

高精度压电系数d33测试仪，其分辨率可达0.01pC/N，是目前所有同类设备中分辨率最高的测试仪，采用多种测量模式，在测量压电系数的同时，可记录d31,d15,电容、电量、tan等参数，并也可…

精密霍尔效应测量系统，广泛应用于半导体材料、低阻材料和高阻材料等物理性能的研究；可对多种重要物理参量如：电阻率、霍尔系数、载流子浓度、迁移率、磁电阻和V-I曲线等测量…

高分辨深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、Zerbst模式、光激…