k-Space Associates，Inc.发布工业计量领域产品
1. X射线荧光膜厚测量设备（型号：kSA XRF）
随着工业产线检测技术的不断发展，k-Space推出了新产品，kSA XRF（X射线荧光膜厚测量设备）。由于金属薄膜和介电薄膜上的膜层厚度过薄，所以通过光学方法测量其厚度是不可靠的，kSA XRF系统的推出主要就是为了解决该问题。它可以在线测量许多不同材料基底（例如：玻璃和太阳能电池组件）上的薄膜厚度。
kSA XRF系统主要由X射线管、高压发生器和X射线探测系统组成。该系统可识别 X 射线发射光谱的光谱峰值，并收集峰值强度信息以供进一步分析。系统可根据您的镀膜方案及测量需求来测试对应的原子种类。另外，可将此设备集成到现有的 QC 系统中，并通过警报提示实时记录薄膜的厚度。
2. 反射率及颜色测量工具（型号：kSA RCM）
新产品 kSA RCM（反射率及颜色测量工具）可测量实时光谱反射率和颜色，以确保样品表面（如玻璃和太阳能电池板）反射的一致性。
该设备可实时测量反馈样品的反射率及颜色的变化情况，用于工艺的流程控制，对产品的产量和质量起着重要作用。kSA RCM包含一个连接到双线性平台系统的光学头，用于扫描面板。它发射一束光束打在面板表面，之后由光谱仪收集反射光谱，接着由 k-Space 软件分析并存储采集的数据，测量光谱反射率和 Lab* 颜色参数。k-Space 可以将此技术集成到现有的 QC 系统、PLC 或工厂数据库中。
